Cientistas finalmente revelam as imperfeições atômicas presentes nos microprocessadores
Pesquisadores da Universidade Cornell utilizaram imagens 3D de alta resolução para identificar, pela primeira vez, defeitos em escala atômica dentro de chips de computador. Essas pequenas imperfeições podem interferir no desempenho dos chips, tornando-se uma grande preocupação para a eletrônica moderna. A nova técnica de imagem foi desenvolvida em colaboração com a Taiwan Semiconductor Manufacturing…